LW400JT芯片檢查顯微鏡

LW400JT芯片檢查顯微鏡

主要技術參數：

1、三目鏡筒：傾斜30 °，瞳距55mm-75mm，視度±5°

2、目鏡：WF10X/18mm

3、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)

PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40

PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8

4、總放大倍數：50X-800X

5、載物臺：尺寸: 280mm×270mm,移動范圍: 204mm×204mm

6、調焦：粗微動同軸 升降范圍25mm ,微動格值0.002mm

7、光 源：柯勒照明 濾色片座 可調鹵素燈6V20W

8、正交偏光裝置

LW400JT芯片檢查顯微鏡

選購件：

1、目鏡：WF16X/11mm，WF20X/9mm，10X帶尺可調目鏡

2、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (彈簧)、 PL L 100X/0.85 (彈簧)

平場消色差物鏡(無蓋玻片)： PL 100X/1.25  (彈簧,油)

3、攝像系統：數碼攝像頭130萬或300萬，數碼相機

4、測量軟件，金相分析軟件等

適用于對不透明物體的進行顯微觀察。配置大移動范圍的機械式載物臺、落射照明器、內置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。適用于學校、科研、工廠等部門使用。